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粉末衍射法测定晶体结构 上册 X射线衍射结构晶体学基础
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晶体结构是了解固体材料性质的重要基础,X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一.本书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基本概念、X射线粉末衍射的实验方法,以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外,还比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德(Rietvcld)法全谱拟合修正晶体结构、固溶体类型与超结构的测定,以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用.重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法. 本书可供从事X射线晶体学和材料科学的科技工作者,以及高等院校有关专业的师生参考。
Categorias:
Ano:
2012
Editora:
科学出版社
Idioma:
chinese
ISBN 10:
703030473X
ISBN 13:
9787030304735
Série:
现代物理基础丛书
Arquivo:
PDF, 14.16 MB
As suas tags:
IPFS:
CID , CID Blake2b
chinese, 2012
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